一种晶体测试安装座
授权
摘要
本实用新型提出一种晶体测试安装座,所述晶体测试安装座包括:主体、探测板;所述主体包括:放置部、安装板、第一板和第二板,所述安装板固定安装在所述主体上,所述放置部与所述主体固定连接,所述放置部上设有放置槽;所述第一板与所述第二板垂直设置,所述第一板与所述第二板固定连接,所述第一板与所述安装板活动连接,所述探测板放置在所述第二板上并与所述第二板固定连接,所述探测板还包括第一探头、第二探头;第一板与座体上的安装板活动连接,第二板与探测板固定连接,第一探头、第二探头与探测板固定连接,使晶体测试安装座的结构更加简单,安装精度更加低。
基本信息
专利标题 :
一种晶体测试安装座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022456803.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-29
授权号 :
CN213633513U
授权日 :
2021-07-06
发明人 :
黄卫龙罗俊强戴文杰杨瑞徐仙
申请人 :
深圳市聚强晶体有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明街道将石社区将富路10号同富汉海达创新园B栋6楼
代理机构 :
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 :
田琼
优先权 :
CN202022456803.1
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-07-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载