一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构
授权
摘要

本实用新型公开了一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构,涉及电力电子器件技术领域。包括底板和支撑板,所述底板的上方设置有支撑板,所述底板的上表面开设有滑轨,所述滑轨的上方滑动连接有支撑杆,所述支撑杆的外部套接有支架,所述支架的前端上表面开设有卡槽,所述支架的背面螺纹连接有定位螺栓;通过设置支撑板对晶体振荡器本体进行固定,其内部设置的方槽和圆孔与晶体振荡器的本体和引脚相对应,使支撑结构可以适应不同检测阶段对晶体振荡器安装方式的需要,在支撑板两侧设置齿轮,通过齿轮搭接在高度可调节的支架上,对检测过程中晶体振荡器的固定高度及角度进行调整,使其跟符合检测需求,从而达到便于本实用的目的。

基本信息
专利标题 :
一种恒温晶体振荡器的老化测试架结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022515173.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-04
授权号 :
CN213813797U
授权日 :
2021-07-27
发明人 :
周利明
申请人 :
苏州市利明电子有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区渭塘镇珍珠湖路27号
代理机构 :
苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王友生
优先权 :
CN202022515173.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-07-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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