本实用新型涉及一种用于测试银胶导电率的治具，包括基座及设置在基座上表面的第一导向槽和第二导向槽，第一导向槽和第二导向槽之间设有窄板，窄板两侧分别设有容置槽，容置槽设有延伸至窄板上边缘的开口结构；容置槽内设有安装柱，安装柱上套设有筒状支架，筒状支架外侧缠有单面粘性胶带，单面粘性胶带的端部设置在第二导向槽与窄板相对应位置，第一导向槽内装有条形玻璃板，条形玻璃板能够在第一导向槽和第二导向槽内滑动，以使条形玻璃板下表面与窄板两侧的单面粘性胶带相贴合。该制样治具通过在第一导向槽和第二导向槽内滑动条形玻璃板，即可在条形玻璃板上形成两个平行的条状胶带，显著提升了制样效率和精度，具有重要实用价值。