存储系统及晶片
实质审查的生效
摘要

抑制探针电极及焊盘电极之间的通信可靠性的劣化。一个实施方式的存储系统具有:包含存储器芯片单元的晶片,该存储器芯片单元包含焊盘电极和与焊盘电极电连接的存储器单元阵列,该焊盘电极包含彼此电连接的第1部分及第2部分;以及探测器,能够保持晶片,对存储器单元阵列进行读写。探测器包含:探针卡,包含能够与焊盘电极接触的探针电极和能够经由探针电极对存储器单元阵列读写的存储器控制器;以及移动机构,为了使所保持的晶片的焊盘电极与探针电极接触,使探针卡或保持的晶片移动。移动机构能够执行使探针电极与焊盘电极的第1部分接触且不与第2部分接触的第1动作和使探针电极不与焊盘电极的第1部分接触而是与第2部分接触的第2动作。

基本信息
专利标题 :
存储系统及晶片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114342055A
申请号 :
CN202080061101.3
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-10-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吉水康人福岛崇人见达郎井上新三浦正幸菅野伸一藤泽俊雄中塚圭祐佐贯朋也
申请人 :
铠侠股份有限公司
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
牛玉婷
优先权 :
CN202080061101.3
主分类号 :
H01L21/66
IPC分类号 :
H01L21/66  H01L21/677  H01L23/544  H01L27/1157  H01L27/11573  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/66
申请日 : 20201021
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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