用于有效检测的低SNR扁平残留物/污点缺陷的频域增强
公开
摘要

本发明公开一种检验系统。所述系统包含可与检验子系统通信地耦合的控制器,所述检验子系统经配置以接收来自样本的照射且产生图像数据。所述控制器包含一或多个处理器,其经配置以执行程序指令从而致使所述一或多个处理器:接收所述图像数据,其中所述图像数据包括至少一个图像;使用双三次内插或双线性内插对所述至少一个图像进行降低采样;使用傅里叶变换将所述至少一个图像从空间域变换到频域;从所述至少一个图像对高于阈值频率的频率进行滤波;使用逆傅里叶变换将所述至少一个图像从所述频域变换到所述空间域;及检测所述至少一个图像中的一或多个扁平图案缺陷。

基本信息
专利标题 :
用于有效检测的低SNR扁平残留物/污点缺陷的频域增强
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114503154A
申请号 :
CN202080069657.7
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-10-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
巫朝红永·张
申请人 :
科磊股份有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 :
刘丽楠
优先权 :
CN202080069657.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/37  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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