用于测量三维曲线形状的特殊光纤及其制造方法、及利用特殊光...
公开
摘要
本发明公开了用于测量三维曲线形状的特殊光纤及利用上述利用特殊光纤测量三维曲线形状的系统。上述特殊光纤包括用于传递光信号的光纤芯、用于覆盖上述光纤芯的内部覆盖层、用于覆盖上述内部覆盖层的外部覆盖层。尤其，上述光纤芯的折射率n1、上述内部覆盖层的折射率n2、上述外部覆盖层的折射率n3设置为n1≥n3>n2的关系。覆盖上述光纤芯的上述内部覆盖层具有沿着长度方向切开的部分。通过上述切开的部分露出上述光纤芯。并且，上述切开的部分由与上述光纤芯或者上述外部覆盖层相同折射率的材质来填充。
基本信息
专利标题 ：
用于测量三维曲线形状的特殊光纤及其制造方法、及利用特殊光纤测量三维曲线形状的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114631002A
申请号 ：
CN202080076924.3
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-10-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱晟敏李英雨
申请人 ：
欧特尼斯有限公司;朱晟敏
申请人地址 ：
韩国光州广域市
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
吕琳
优先权 ：
CN202080076924.3
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G02B6/02 G02B6/036
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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