三维形状测量装置
专利权的终止
摘要

在使用白色干涉条纹测量被测量物的三维形状的三维形状测量装置(白色干涉测量装置)中,可以缩短运算所需要的处理时间,并且可以高精度地确定白色干涉条纹的振幅的包络线为最大的位置。在白色干涉测量装置中,首先对于由来自参照镜(6)的返回光和来自被测量物(7)的返回光的干涉产生的白色干涉条纹,求出振幅的包络线的分布,使用该包络线的分布,求出白色干涉条纹的对比度为最大的大概的位置。然后,提取白色干涉条纹中包含的至少两个以上相互不同的分光光谱频带成分的干涉条纹,在白色干涉条纹的对比度为最大的大概位置的附近求出得到相互不同的分光光谱频带成分的干涉条纹的相位为相互相等的值的位置。

基本信息
专利标题 :
三维形状测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101087991A
申请号 :
CN200580044232.6
公开(公告)日 :
2007-12-12
申请日 :
2005-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
武田光夫米哈尔·埃马努埃尔·波罗斯基坂野洋平
申请人 :
国立大学法人电气通信大学
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 :
许静
优先权 :
CN200580044232.6
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  G01B9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2015-02-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101598340398
IPC(主分类) : G01B 11/24
专利号 : ZL2005800442326
申请日 : 20051222
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20131222
2009-05-27 :
授权
2008-02-06 :
实质审查的生效
2007-12-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332