探针偏移的校正方法
实质审查的生效
摘要

一种探针偏移的校正方法,适用由处理单元实施,提供待测电路板,所述待测电路板具有多个焊垫,及具有多个分别能让对应的所述焊垫的表面露出的实际开窗区金属范围,且每一个实际开窗区金属范围内具有至少一个对应所述焊垫的扎痕。以光学装置撷取所述扎痕的一扎痕影像及所述实际开窗区金属范围的轮廓影像。将多个扎痕影像叠合,使多个实际开窗区金属范围的轮廓影像相互堆叠而交集成交集区域。在所述交集区域中,计算出离所述交集区域的中心相对所述扎痕影像的位移量,作为探针移动补偿的参考。

基本信息
专利标题 :
探针偏移的校正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384393A
申请号 :
CN202110115541.9
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-01-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
汪光夏范姜凯
申请人 :
牧德科技股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹市
代理机构 :
北京泰吉知识产权代理有限公司
代理人 :
史瞳
优先权 :
CN202110115541.9
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20210128
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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