用于检测修改设计的错误实例的方法、设备及存储介质
授权
摘要
本申请提供一种用于检测修改设计的错误实例的方法、设备及存储介质。该方法包括：确定所述修改设计中的一个一级实例；接收所述一级实例的参考信号；基于所述参考信号的一级原始实例的输入信号，运行所述一级实例；响应于所述第一输出与所述一级原始实例的输出信号不一致，将所述多个二级实例分为两组实例；将第一组二级实例的输出信号置为所述参考信号中与所述第一组二级实例对应的输出信号；基于所述参考信号中与第二组二级实例对应的输入信号，运行所述一级实例以确定所述一级实例的第二输出是否存在错误；以及响应于所述第二输出不存在错误，确定所述第一组二级实例存在错误实例。
基本信息
专利标题 ：
用于检测修改设计的错误实例的方法、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112989736A
申请号 ：
CN202110439055.2
公开（公告）日 ：
2021-06-18
申请日 ：
2021-04-23
授权号 ：
CN112989736B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
芯华章科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区华创路共享空间01栋18层
代理机构 ：
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 ：
李莎
优先权 ：
CN202110439055.2
主分类号 ：
G06F30/333
IPC分类号 ：
G06F30/333 G06F30/33 G06F115/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/333
可测试性设计,例如，扫描链或者内置自检
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2021-07-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/333
申请日 : 20210423
申请日 : 20210423
2021-06-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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