检测方法及装置
授权
摘要
本公开涉及检测方法及装置，所述方法包括：配置所述显示面板的各个发光二极管的电源正极端或电源负极端为高阻状态；采集各个发光二极管的电源负极端的端电压；根据所述端电压的变化确定所述显示设备的坏点位于所述驱动电路或所述显示面板。本公开实施例通过配置所述显示面板的各个发光二极管的电源正极端或电源负极端为高阻状态，并根据端电压的变化可以准确、快速地判定坏点的位置，以改善显示设备的制造工艺。
基本信息
专利标题 ：
检测方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113721120A
申请号 ：
CN202110801649.3
公开（公告）日 ：
2021-11-30
申请日 ：
2021-07-15
授权号 ：
CN113721120B
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
谢宗哲
申请人 ：
集创北方（珠海）科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市横琴国际科技创新中心环岛北路2515号2单元23层
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN202110801649.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-29 ：
授权
2021-12-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20210715
申请日 : 20210715
2021-11-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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