一种基于离散极大值的太赫兹吸收峰位提取方法
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摘要
本发明公开了一种基于离散极大值的太赫兹吸收峰位提取方法。太赫兹吸收系数光谱中的特征吸收峰在光谱含峰目标物的鉴定研究中起到重要作用,所以特征吸收峰的识别及特征吸收峰位的确定是鉴定研究中的必需工作。所述伴随拐点法主要通过搜寻太赫兹吸收系数光谱中存在的拐点以及伴随拐点对,从而得到原始太赫兹吸收系数谱图对应的基线谱以及差谱,然后根据离散极大值法确定差谱中的峰位信息,即为物质原始谱图的吸收峰位。本发明方法有助于搜寻物质的太赫兹吸收系数谱图中存在的弱峰,通过特征吸收峰实现对物质的信息提取和精准判别,从而提升太赫兹技术对物质的检出效率。
基本信息
专利标题 :
一种基于离散极大值的太赫兹吸收峰位提取方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113607679A
申请号 :
CN202110885369.5
公开(公告)日 :
2021-11-05
申请日 :
2021-08-03
授权号 :
CN113607679B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
康旭升曹雨齐黄平捷侯迪波张光新
申请人 :
浙大城市学院
申请人地址 :
浙江省杭州市拱墅区湖州街51号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
邱启旺
优先权 :
CN202110885369.5
主分类号 :
G01N21/3586
IPC分类号 :
G01N21/3586
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
G01N21/3586
通过太赫兹时域频谱学
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-11-23 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/3586
申请日 : 20210803
申请日 : 20210803
2021-11-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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