本发明一种探针结构属于半导体测试技术领域；该探针结构包括限位板，贯穿限位板并成阵列分布的探针，所述探针能够绕自身旋转，探针在限位板上方设置有齿轮，在与齿轮同平面上，设置有齿条框架，所述齿条框架由多个平行的齿条构成，所述齿条与齿轮啮合，所述探针的下方设置有弯曲结构，所有探针的弯曲结构向同一方向弯曲；本发明探针结构，配合插座结构，降低了探针与插座的对准难度，不容易损坏探针，实现了拆装过程可逆，有利于进行重复性测试，同时还能够解决大电流下探针之间放电而造成短路的问题。