行扫描用非郎伯表面检查系统
公开
摘要
本发明涉及行扫描用非郎伯表面检查系统，包括：表面检查部，在一侧面以及另一侧面中的至少一个上形成曲线形的搁置孔，包括在上端形成拍摄孔的框架模块以及通过在搁置孔中安装多个而向放置在底面上的被检查物体沿着斜线照射光线的第一照明模块以及第二照明模块；摄像头部，位于拍摄孔的上方，通过贯通拍摄孔并对位于底面上的被检查物体进行拍摄而生成包括第一照明图像以及第二照明图像在内的整体合成图像；以及，控制器部，用于对摄像头部的工作进行控制，通过选择性地驱动第一照明模块以及第二照明模块而从通过摄像头部拍摄到的整体接收图像提取出第一照明图像以及第二照明图像并利用预先设定的公式加工之后进行合成而生成控制器部。
基本信息
专利标题 ：
行扫描用非郎伯表面检查系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324344A
申请号 ：
CN202111137167.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-09-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
权仁洙尹汝鹤全雄俊朴水烈
申请人 ：
蜂巢视野株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
马建军
优先权 ：
CN202111137167.9
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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