测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法
公开
摘要
本发明公开的一种测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法,能准确识别BIT状态,滤除虚警。本发明通过下述技术方案予以实现:结合航电系统的复杂性、层次性、相关性和不确定性的故障特征,按照通过/未通过测试结果进行分组;系统级BIT虚警过滤算法软件基于极大似然法则判定虚警,若疑似虚警集合中某个故障指示与2个及以上“通过测试”相悖,则该故障指示判定为虚警;若通过测试集合中某个通过测试与多个故障指示相悖,则该通过测试判定为漏检;根据测试置信度先验信息对剩余疑似虚警进行处理,针对2个测试结果相悖的情况,基于测试置信度进行判定处理:置信度低的测试结果为假,置信度高的测试结果为真,并送入虚警或漏检集合。
基本信息
专利标题 :
测试证据关联自适应识别BIT虚警的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114564379A
申请号 :
CN202111157091.6
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2021-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
文佳罗海明梁天辰周靖宇
申请人 :
西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
申请人地址 :
四川省成都市金牛区茶店子东街48号
代理机构 :
成飞(集团)公司专利中心
代理人 :
郭纯武
优先权 :
CN202111157091.6
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36 H04B17/391 H04B17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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