一种LED二极管检测系统及其方法
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摘要
本发明涉及二极管检测的技术领域，特别涉及一种LED二极管检测系统及其方法，包括基底、安装侧板和检测装置，所述的基底上端面的左右两侧对称固定有安装侧板，安装侧板的上端之间连接有检测装置。本发明可以解决传统的LED二极管的检测效率则较低且精确度难以把握，不利于进行工业化生产，且通常只进行一次检测，会降低检测结果的准确度等问题。本发明设计了一种可对多个LED二极管进行引脚与环氧树脂之间的连接强度检测的设备，提升了LED二极管的检测效率，通过多次检测确保了检测结果的准确度，同时，在机械检测的基础上再通过电路检测对LED二极管进行质量检测，进一步筛选出内部质量较好的LED二极管。
基本信息
专利标题 ：
一种LED二极管检测系统及其方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113866583A
申请号 ：
CN202111182897.0
公开（公告）日 ：
2021-12-31
申请日 ：
2021-10-11
授权号 ：
CN113866583B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
李云飞
申请人 ：
安徽大学江淮学院
申请人地址 ：
安徽省合肥市史河路8号
代理机构 ：
北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
韦建华
优先权 ：
CN202111182897.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01N3/34 G01R31/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2022-01-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211011
申请日 : 20211011
2021-12-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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