接触透镜缺陷分析跟踪系统
公开
摘要

一种用于检查接触透镜中的缺陷的手动检查系统和方法,包括:具有至少两个高分辨率摄像装置的图像获取系统;用于获取亮场图像的顶部照明光头;用于获取暗场图像的背光式照明模块;用于获取不同类型的亮场图像的至少其他背光式照明模块;用于改变适用于特定产品的测量器具的可互换机构;嵌入有多个光学滤波器以满足不同成像要求的旋转轮;第一摄像装置;第二摄像装置;玻璃模板或测量器具;柔性模板测量器具,作为可选叠加;用于定位接触透镜的XYZ台;在计算机上创建将几何信息和详细缺陷信息以及它们各自的位置信息制成表格的数据库;以及随后分析数据库图像以对制造过程得到校正动作,以提高接触透镜的质量和产量。

基本信息
专利标题 :
接触透镜缺陷分析跟踪系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114429444A
申请号 :
CN202111200256.3
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2021-10-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
雅各布·宾·穆罕默德陈美全
申请人 :
亿美视觉私人有限公司
申请人地址 :
新加坡新加坡城
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
高岩
优先权 :
CN202111200256.3
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06V10/764  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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