判决电平预测方法、存储介质及SSD设备
授权
摘要

本发明提供了一种判决电平预测方法、存储介质及SSD设备,所述方法包括:当进行数据读取时,获取存储单元的使用状态信息、读数据温度和写数据温度,读数据温度为存储单元的当前温度,写数据温度为数据写入时所述存储单元的温度;根据所述使用状态信息预测所述存储单元的判决电平;根据读数据温度和写数据温度确定判决电平补偿值,并根据所述判决电平补偿值对预测出的判决电平进行修正。本发明通过计算存储单元在跨温场景的使用状态信息并基于使用状态信息预测最优判决电平,以便在读数据时采用最优判决电平进行数据读取,有效减少由跨温读写引起的读数据的RBER,降低ECC解码器的迭代时间和相应功耗,提升了整个SSD设备的使用寿命。

基本信息
专利标题 :
判决电平预测方法、存储介质及SSD设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114020573A
申请号 :
CN202111317083.3
公开(公告)日 :
2022-02-08
申请日 :
2021-11-09
授权号 :
CN114020573B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
秦东润刘晓健王嵩
申请人 :
北京得瑞领新科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园北领地B-6号楼A座9层A905室
代理机构 :
北京慧智兴达知识产权代理有限公司
代理人 :
李丽颖
优先权 :
CN202111317083.3
主分类号 :
G06F11/30
IPC分类号 :
G06F11/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/30
监控
法律状态
2022-06-07 :
授权
2022-02-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/30
申请日 : 20211109
2022-02-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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