存储装置的故障预测方法和装置
公开
摘要
提供了一种存储装置的故障预测方法和装置，所述方法包括：将实时采集的所述存储装置的SMART数据输入到多个基分类模型中的每个基分类模型，以获取每个基分类模型输出的针对实时采集的所述存储装置的SMART数据的分类结果，其中，每个基分类模型利用多个存储装置的历史SMART数据和/或在线采集的所述多个存储装置的SMART数据训练而获得；基于多个基分类模型的分类结果确定实时采集的所述存储装置的SMART数据是健康数据还是故障数据；基于预定时间窗口内采集到的所述存储装置的SMART数据被确定为健康数据的SMART数据的数量和被确定为故障数据的SMART数据的数量来预测所述存储装置是否将出现故障。
基本信息
专利标题 ：
存储装置的故障预测方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114282342A
申请号 ：
CN202111322071.X
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-11-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郝雯雯权勇雄刘娜罗寅高灿奎斗李宁王璐沈荣燮
申请人 ：
三星（中国）半导体有限公司;三星电子株式会社
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区洨河北路1999号
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
曾世骁
优先权 ：
CN202111322071.X
主分类号 ：
G06F30/20
IPC分类号 ：
G06F30/20 G06F119/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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