检查系统、管理装置、检查方法、记录介质和物品的制造方法
公开
摘要
公开了检查系统、管理装置、检查方法、记录介质和物品的制造方法。一种检查系统包括：图像捕获单元，被配置为捕获工件的图像；以及处理单元，被配置为基于由图像捕获单元捕获的图像来确定工件的质量，其中，处理单元基于在第二检查步骤中由图像捕获单元捕获的第二图像来确定工件是否包括缺陷，其中，处理单元基于第二图像和在第二检查步骤之前执行的第一检查步骤中由图像捕获单元捕获的第一图像来提取工件的缺陷部分候选，以及其中，处理单元基于所提取的工件的缺陷部分候选来改变第一检查步骤的检查条件。
基本信息
专利标题 ：
检查系统、管理装置、检查方法、记录介质和物品的制造方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609139A
申请号 ：
CN202111408569.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
志岐美佳
申请人 ：
佳能株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
宋岩
优先权 ：
CN202111408569.8
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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