一种基于密集阵列的智能兰姆波缺陷定位方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于密集阵列的智能兰姆波缺陷定位方法，智能缺陷定位方法主要包含检测分析函数模型和智能分析算法2个部分。检测分析函数模型主要由2个基于直达时间飞行法DTFM和飞行时间差法FTDM构建的种群残差计算函数、1个约束函数和1个优化函数组成；基于改善后的进化策略对分析函数模型进行分析，由分析保留个体分布确定缺陷位置。本发明改善了传统检测技术中声场指向性对检测结果的影响，能够快速实现大型板壳结构缺陷的定位检测。
基本信息
专利标题 ：
一种基于密集阵列的智能兰姆波缺陷定位方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114371217A
申请号 ：
CN202111426705.6
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2021-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘增华陈洪磊鲁朝静吴斌何存富
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 ：
沈波
优先权 ：
CN202111426705.6
主分类号 ：
G01N29/04
IPC分类号 ：
G01N29/04 G01N29/07 G06N3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/04
申请日 : 20211127
申请日 : 20211127
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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