级联靶标自校准式大型结构体位移形变测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种级联靶标自校准式大型结构体位移形变测量方法,包括以下步骤:【1】建立级联靶标自校准式大型结构体位移形变测量装置:位移形变测量装置包括数据处理单元、基准靶标、测量靶标、n只级联设置的传递靶标,以及与基准靶标、测量靶标、传递靶标相对应的n+1测量图像位移传感器;【2】数据采集:图像位移传感器获取基准靶、传递靶标和测量靶标的图像数据,并发送至数据处理单元;【3】数据处理:数据处理单元根据基准靶标、测量靶标和每只传递靶标的位置关系,得到大型结构体的位移形变参数。本发明通过传递靶标实现了基准靶标向测量靶标的传递,实现了大型结构体位移和形变的绝对测量,并确保具有较高的测量分辨率和测量区域范围。

基本信息
专利标题 :
级联靶标自校准式大型结构体位移形变测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383511A
申请号 :
CN202111441050.X
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
牛敏敏王长江李运输樊晓龙刘东坡李佳杨涛涛
申请人 :
甘肃智通科技工程检测咨询有限公司;西安联创兴科测控科技有限公司
申请人地址 :
甘肃省兰州市七里河区兰工坪路202号
代理机构 :
西安渭之蓝知识产权代理有限公司
代理人 :
刘振
优先权 :
CN202111441050.X
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G01B11/16  G06T5/00  G06T7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20211130
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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