一种建筑结构的整面动位移的测量方法
公开
摘要
本发明提供了一种建筑结构的整面动位移的测量方法。该方法包括：设置两个刚性连接的第一监控装置和第二监控装置；将所述第一监控装置的监测区域设置为待测结构的表面，将所述第二监控装置的监测区域设置为预设的标定区域；第一监控装置和第二监控装置分别获取各自的监测区域的原始视频或连续图像；根据所获得的监测区域的原始视频或连续图像，计算得到待测结构的表面的整体位移。应用本发明可以有效地提高测量结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种建筑结构的整面动位移的测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295058A
申请号 ：
CN202111432226.5
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
樊健生刘宇飞刘家豪
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村北大街清华大学
代理机构 ：
北京集智东方知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈攀
优先权 ：
CN202111432226.5
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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