基于深度超分辨率网络的结构位移测量方法及装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种基于深度超分辨率网络的结构位移测量方法及装置，方法包括：获取待测结构位移前后的原始图像，分别从位移前后的原始图像中提取初始ROI图像；分别将位移前后的初始ROI图像输入图像超分辨模型，得到位移前后的超分辨率ROI图像；分别对位移前后的超分辨率ROI图像进行还原处理，得到位移前后的超分辨率图像；基于位移前后的超分辨率图像，对待测结构进行位移测量，得到位移测量结果。通过图像超分辨模型可以根据位移前后的初始ROI图像，获得相应的超分辨率ROI图像，进而获得位移前后的超分辨率图像，利用位移前后的超分辨率图像，可以得到更加精确的位移测量结果，有效提升了结构位移的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
基于深度超分辨率网络的结构位移测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114549613A
申请号 ：
CN202210114593.9
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陆新征孙楚津廖文杰
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区双清路30号清华大学
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
孟省
优先权 ：
CN202210114593.9
主分类号 ：
G06T7/60
IPC分类号 ：
G06T7/60 G06V10/25 G06K9/62 G06V10/774
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割；边缘检测
G06T7/60
图形属性的分析
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/60
申请日 : 20220130
申请日 : 20220130
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
