一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件
公开
摘要

本申请公开了一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件,该方法包括:将电容值档位可调的电容矩阵作为自举电容接入buck电路;启动测试程序,执行以下操作:根据当前档位指令,调整电容矩阵的当前电容值档位;控制负载仪进行电流拉载,并控制预设电源对电源芯片进行上下电测试;记录当前电容值档位的测试结果;若当前档位与上一档位的上下电结果相同,则根据测试顺序生成下一档位指令;若不同,则确定最终测试结果并结束测试。该测试中自举电容可自行调节电容值档位,不需要在主板上反复焊接不同的自举电容,拉载测试由测试程序自动实现,不需要人工手动进行,且程序控制效率更高,耗时更短,节省了大量人工成本和时间成本。

基本信息
专利标题 :
一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295897A
申请号 :
CN202111447874.8
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵国玲
申请人 :
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
吴磊
优先权 :
CN202111447874.8
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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