一种长卷尺辅助测量装置及测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种长卷尺辅助测量装置及测量方法,包括:外壳、水平度测量组件、卷尺松紧控制组件及激光发射装置;其中,所述外壳具有可开合的上、下盒体,所述上盒体和所述下盒体之间具有预设缝隙,用以容置卷尺;所述卷尺松紧控制组件设置在所述外壳的内部一侧,用以在所述上盒体与所述下盒体闭合后,放松或收紧所述卷尺;所述水平度测量组件设置在所述外壳的上表面,用以调平所述卷尺;所述激光发射装置置于所述外壳的内部,且所述外壳的下表面上开设有激光透射孔,用以使得所述卷尺在垂直方向上与待测点对准。本发明实现了水平度与垂直度结构的集成化,确保了在有高差或障碍物的环境下进行水平距离测量的精度,且体积较小,便于携带。

基本信息
专利标题 :
一种长卷尺辅助测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383481A
申请号 :
CN202111507396.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王佳源龚俊徐攀雷文浩陈大为
申请人 :
中国一冶集团有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市青山区36街坊(青山区工业路3号一冶科技大楼)
代理机构 :
北京工信联合知识产权代理有限公司
代理人 :
夏德政
优先权 :
CN202111507396.5
主分类号 :
G01B3/1003
IPC分类号 :
G01B3/1003  G01B3/1046  G01B3/1084  G01B3/1092  G01B3/1094  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1003
特征在于结构或材料;特征在于布局或标记
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 3/1003
申请日 : 20211210
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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