一种表贴晶振的可靠性筛选方法
实质审查的生效
摘要
本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振的可靠性筛选方法，包括：对表贴晶振进行电性能筛选测试，获取初始测试数据；对所述表贴晶振进行力学筛选测试；对所述表贴晶振进行热学筛选测试；对所述表贴晶振进行常温电性能参数终测筛选测试；对所述表贴晶振进行高低温测试筛选测试；对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；根据上述筛选测试结果与初始测试数据的比对结果，筛选出符合要求的表贴晶振。
基本信息
专利标题 ：
一种表贴晶振的可靠性筛选方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414910A
申请号 ：
CN202111533907.0
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
睢建平祖娜郑文强崔巍段友峰卢思然甘家健
申请人 ：
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区142信箱408分箱
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
张帆
优先权 ：
CN202111533907.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M7/06 G01M99/00 G01N3/60 G01N17/00 G01R23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211215
申请日 : 20211215
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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