探测片自动化测量装置及其控制方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种探测片自动化测量装置,采用了移动装置,将储样装置中的探测片移动到探测装置进行探测;主控系统控制移动装置将探测片移动至探测装置进行检测以及将测量完成的探测片移动至储样装置;在探测片探测过程中;保护装置跟随所移动装置中任意一个移动部件的轴线移动方向一起移动,对探测片探测过程进行屏蔽保护,减少了探测过程中对工作人员的身体造成辐射损伤的风险,同时还对探测片探测过程加上了铅屏蔽,降低外界干扰使测量结果更准确。该移动装置具备结构简单,开启动作快速,灵活,自动化程度高、开启和关闭时控制精度高等优点。

基本信息
专利标题 :
探测片自动化测量装置及其控制方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280661A
申请号 :
CN202111538920.5
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王红丽陆勤伟马佳林张燊黄艳王志皓沈卫科罗美娜
申请人 :
上海新漫传感科技有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区叶城路1411号3幢A区
代理机构 :
上海裕创慧成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄裕
优先权 :
CN202111538920.5
主分类号 :
G01T7/00
IPC分类号 :
G01T7/00  G01T7/02  G01T7/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 7/00
申请日 : 20211215
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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