一种空间电荷注入阈值电场的测量方法及系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种空间电荷注入阈值电场的测量方法及系统,包括:获取金属化处理的试样,在其两端外接初始直流电场;对试样金属化侧施加激光脉冲,采集试样在激光脉冲作用下产生的响应电流;根据响应电流计算得到试样内部近表层的电场强度,若计算的表层电场强度等于外接电场强度,则增大外接直流电场,继续计算试样表层电场强度,否则,将此时外接电场作为试样的空间电荷注入阈值电场。与现有技术相比,本发明利用瞬时热扰动法,根据热扰动下形成的热响应电流计算得到试样内部近表层的电场分布,比较计算的表层电场分布与外接均匀电场,当外接电场与计算的表层电场分布之间存在偏离时,认为此时的外接电场强度达到了试样的空间电荷注入阈值电场。

基本信息
专利标题 :
一种空间电荷注入阈值电场的测量方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371379A
申请号 :
CN202111558857.1
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郑飞虎杨玉潇
申请人 :
同济大学
申请人地址 :
上海市杨浦区四平路1239号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡彭君
优先权 :
CN202111558857.1
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211220
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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