一种提高调制光谱测量精度的装置与方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种提高调制光谱测量精度的装置与方法,包括窄线宽激光器、电光调制器、光谱分析模块、微波信号源、数据采集与控制模块,其中窄线宽激光器、电光调制器和光谱分析模块依次光学连接,微波信号源与电光调制器电学连接,数据采集与控制模块分别与微波信号源和光谱分析模块采用数据总线连接。用光谱仪测量窄线宽光载波的谱线作为系统基函数,然后以该系统基函数构建实测谱线模型对实测光谱进行拟合,获得待测光谱各个谱线的位置和幅度。本发明解决了在光谱测量过程中,受到光栅光谱分析分辨率的限制,在待分辨的谱线靠近的情形下,谱线强度相互叠加,导致调制光谱测量误差较大的问题,提高了调制光谱的测量精度。
基本信息
专利标题 :
一种提高调制光谱测量精度的装置与方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414048A
申请号 :
CN202111584522.7
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张尚剑李健张雅丽刘永
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111584522.7
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28 G06F17/15 G06N3/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20211223
申请日 : 20211223
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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