一种标准单元版图的优化方法及装置、终端，所述方法，包括：提取影响标准单元版图的性能的特征变量，所述特征变量的数量为一个或者多个；调整一个或者多个特征变量的值，并基于每次调整后的特征变量的值，对所述标准单元版图所属的芯片工艺流程进行仿真，获得仿真结果，所述仿真结果为对应于该芯片工艺流程的芯片性能参数；建立仿真结果与特征变量之间的映射关系；建立模型训练样本，所述模型训练样本是根据调整后的特征变量与对应的仿真结果确定的；采用所述模型训练样本训练回归模型；基于训练得到的回归模型对所述标准单元版图进行优化。本发明可以提高优化效率和准确性。