基于β射线分析技术的颗粒物检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了基于β射线分析技术的颗粒物检测方法,具体为:不含颗粒物的零气进入采样管并穿过滤膜;同时,β射线穿过滤膜,获得计数的平均值I0;进入采样管的待测气体中颗粒物被滤膜截留;同时,获得多个时间段内计数的平均值Ii,i=1,2···N;根据时间段内计数的平均值、平均值I0以及该时间段内的待测气体体积得到该时间段内的颗粒物含量;在滤膜富集颗粒物的同时,获得时间段[T1,T2]内与多个时间点ti分别对应的计数值Ai,i=1,2···M,获得计数值Ai与时间点ti的映射关系A=f(t);根据所述映射关系计算得到时间段[T1,T2]内任意二个时间点t′1、t′2处的计数值A′1、A′2,根据计数值A′1、A′2以及时间点t′1、t′2间待测气体体积,得到时间点t′1、t′2间待测气体中颗粒物含量。本发明具有检测结果准确等优点。

基本信息
专利标题 :
基于β射线分析技术的颗粒物检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486655A
申请号 :
CN202111635423.7
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周海波刘逵盛伟明胡扬俊沈兴超保长先胡喆任鑫刘贝赵紫薇
申请人 :
聚光科技(杭州)股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区滨安路760号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111635423.7
主分类号 :
G01N15/06
IPC分类号 :
G01N15/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/06
申请日 : 20211229
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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