一种自动装卸式IC芯片检测辅助器
公开
摘要
本发明涉及一种检测辅助器,尤其涉及一种自动装卸式IC芯片检测辅助器。本发明的技术问题:提供一种能够实现自动上料和卸料的自动装卸式IC芯片检测辅助器。本发明的技术实施方案是:一种自动装卸式IC芯片检测辅助器,包括有底盘、控制板、吸盘、转动机构、吸附机构、压力感知机构和检测机构,底盘顶部一侧设有控制板,底盘上设有转动机构,转动机构的部件上设有吸盘,底盘和转动机构之间设有吸附机构,吸附机构上设有压力感知机构,底盘顶部设有检测机构。打开抽气泵,将气体进行抽取,使得吸盘自动吸取IC芯片,使得IC芯片被固定,然后将IC芯片运输到检测座上,以便于人们对IC芯片进行检测。
基本信息
专利标题 :
一种自动装卸式IC芯片检测辅助器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295638A
申请号 :
CN202111637299.8
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
傅群娣
申请人 :
傅群娣
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区布吉西环路翠枫豪园2期9A12A
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111637299.8
主分类号 :
G01N21/956
IPC分类号 :
G01N21/956 G01N21/13 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载