一种芯片开环检测辅助装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种芯片开环检测辅助装置,属于芯片检测技术领域,其结构包括底板、顶板和多根探针,底板和顶板之间通过连接柱连接起来,顶板上固定设置有转接PCB电路板;多根探针一端穿过顶板连接至转接PCB电路板上,另一端穿过底板与待检测的芯片相配合。探针的下方对应设置有底座,底座上设置有用于放置芯片的限位槽。底座上方设置有能够打开和关闭的上盖,底板安装在所述上盖的内侧,连接柱及探针穿过上盖延伸至上盖的外侧。本实用新型示例的检测辅助装置,在进行芯片检测时能够节省将芯片组装到合金底座的复杂工序,避免了组装完大批芯片,但由于芯片检测不合格,导致前期的人力物力都浪费掉的情况。

基本信息
专利标题 :
一种芯片开环检测辅助装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022420775.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-27
授权号 :
CN213455557U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
王军波陈德勇商艳龙谢波江华鲁毓岚严鹏程
申请人 :
山东中科思尔科技有限公司
申请人地址 :
山东省济南市中国(山东)自由贸易试验区济南片区综合保税区港兴三路北段未来创业广场3号楼18层1818室
代理机构 :
济南知来知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹丽
优先权 :
CN202022420775.8
主分类号 :
G01D18/00
IPC分类号 :
G01D18/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D18/00
测试或校准大组G01D1/00-G01D15/00中列入的设备或装置
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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