一种反冲核俘获探测装置及反冲俘获探测方法
公开
摘要
本发明提出了一种反冲核俘获探测装置，包括反冲核俘获探测器和中子源，该反冲核俘获探测器包括探测器腔体、待测核材料镀片、俘获介质；该待测核材料镀片和俘获介质相接触并设置于探测器腔体内部，待测核材料镀层经中子辐照发生核反应可产生反冲核并由俘获介质俘获；中子源位于探测器腔体外部底衬侧，中子能量阈值为5MeV。本发明还提出一种反冲核俘获探测方法，其步骤为：组装探测器、辐照核材料镀层、俘获反冲核、测试放射性、数据处理获取核反应截面参数。本发明所述装置和方法避开了放化法工艺繁杂、测试周期长、成本高的缺点，实现了反冲核与母核的分离与富集，解决了母核与子核衰变类型相同、发射射线或粒子能量相当时核反应截面难测量的难题。
基本信息
专利标题 ：
一种反冲核俘获探测装置及反冲俘获探测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114296123A
申请号 ：
CN202111650353.2
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
韩子杰言杰鹿心鑫朱通华
申请人 ：
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 ：
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 ：
中国工程物理研究院专利中心
代理人 ：
张保朝
优先权 ：
CN202111650353.2
主分类号 ：
G01T1/34
IPC分类号 ：
G01T1/34 G01T3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/34
测量截面，例如，测量粒子的吸收截面
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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