一种存储器的仿真验证方法和装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种存储器的仿真验证方法和装置,仿真验证方法包括:获取存储器关键路径的仿真存储点,其中,所述关键路径为所述存储器与存取端口之间的最远路径;验证所述存储器的读写功能是否正确;若是,则提取所述仿真存储点的时序参数进行仿真验证,其中,所述时序参数由所述仿真存储点验证读写功能的过程中生成。本发明通过验证仿真存储点的读写功能正确后,再提取仿真存储点的时序参数进行仿真验证,保证了读写功能验证正确和时序参数的准确性,可以在特征化参数仿真的同时验证读写功能,应用于存储编译器设计中,可以大大减少仿真验证的工作量,有效提高了存储编译器的设计效率。

基本信息
专利标题 :
一种存储器的仿真验证方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114356736A
申请号 :
CN202111666794.1
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭燕萍韩郑生闫珍珍许婷卜建辉刘海南王成成高立博赵发展罗家俊
申请人 :
中国科学院微电子研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路3号
代理机构 :
北京华沛德权律师事务所
代理人 :
曹洪进
优先权 :
CN202111666794.1
主分类号 :
G06F11/34
IPC分类号 :
G06F11/34  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/30
监控
G06F11/34
计算机功效的记录或统计测定,例如,故障停机时间的、输入/输出操作的
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/34
申请日 : 20211231
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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