光电图像传感器单个粒子位移损伤的测试系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种光电图像传感器单个粒子位移损伤的测试系统及方法，主要解决现有测试方法无法快速准确对光电图像传感器单个粒子位移损伤效应进行测试的问题。该测试系统中，光电图像传感器安装在辐照板上，辐照板设置在自动移动平台上；FPGA控制模块、电源模块设置在测试板上，且均与光电图像传感器连接；束流终端设置在光电图像传感器的一侧；激光定位仪设置在光电图像传感器的一侧；直流电源用于给光电图像传感器供电；下位控制计算机与FPGA控制模块连接，用于对光电图像传感器采集的图像数据进行处理，并将处理后的数据传输给上位控制计算机。本发明方法为光电图像传感器单个粒子位移损伤程度评估和损伤机理研究奠定基础。
基本信息
专利标题 ：
光电图像传感器单个粒子位移损伤的测试系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114500990A
申请号 ：
CN202111673490.8
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
薛院院王祖军陈伟刘敏波姚志斌何宝平郭晓强盛江坤马武英缑石龙
申请人 ：
西北核技术研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市灞桥区平峪路28号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
郑丽红
优先权 ：
CN202111673490.8
主分类号 ：
H04N17/00
IPC分类号 ：
H04N17/00
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 17/00
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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