本发明公开了一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，属于芯片自动检测技术领域，包括输送支架，所述输送支架的内部设置有用于待检测芯片移动的输送装置，输送装置两侧的输送支架前端上安装有尺寸检测装置，所述尺寸检测装置后方的输送支架上设置有布局检测装置。本发明一种可实现晶元芯片自动检测及分类的智能设备，从而有效带动待检测的芯片移动，提高输送效率，保证其检测便捷性和自动智能性能，提高检测便捷性，且可根据需要进行高度调整，提高整体适配性，有效对芯片整体进行检测，能够多角度进行检测，提高检测质量，提高检测速度，满足生产效益，保证分类效率，有效进行分类，有效进行瑕疵排出，保证芯片成品质量。