进行低功耗设计的方法、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种进行低功耗设计的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：获得与低功耗设计对应的目标电路图；确定所述低功耗设计中是否存在报错信息；响应于所述低功耗设计中存在报错信息，确定所述报错信息在所述目标电路图中的目标位置以及与所述报错信息对应的缺失电路；以及将所述缺失电路插入至所述目标电路图中的所述目标位置。
基本信息
专利标题 ：
进行低功耗设计的方法、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114548028A
申请号 ：
CN202111680751.9
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈亚平唐炳洋
申请人 ：
芯华章科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区华创路共享空间01栋18层
代理机构 ：
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 ：
李莎
优先权 ：
CN202111680751.9
主分类号 ：
G06F30/398
IPC分类号 ：
G06F30/398 G06F30/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/398
设计验证或优化，例如：使用设计规则检查、布局与原理图或有限元方法
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/398
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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