一种液晶面板缺陷分层检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了液晶面板缺陷分层检测装置，其包括：用于支撑液晶面板的机台、自然光源相机组件、第一紫外光源相机组件、第二紫外光源相机组件、自然光源、第一紫外线光源、第二紫外线光源，机台可左右移动，自然光源相机组件与自然光源位于液晶面板的同侧或异侧，第一紫外光源相机组件与第二紫外光源相机组件以液晶面板为轴线对称设置，第一紫外光源相机组件与第一紫外线光源均位于液晶面板的一侧，第二紫外光源相机组件与第二紫外线光源均位于液晶面板的另一侧。本实用新型能够自动化区分液晶面板表面的缺陷和液晶面板内部的缺陷，提高检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种液晶面板缺陷分层检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202120752826.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-04-13
授权号 ：
CN216433945U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
杨洋倪莉莉
申请人 ：
合肥市商巨智能装备有限公司;深圳商巨智能设备股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市新站区工业园内
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202120752826.9
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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