一种用于太赫兹无损检测的可视化垂直反射测量装置
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摘要
本实用新型涉及太赫兹检测技术领域,具体是一种用于太赫兹无损检测的可视化垂直反射测量装置,包括壳体、可见光源组件、太赫兹发射组件、太赫兹接收组件、反射镜、第一分束器和第二分束器;壳体内设有腔体,腔体的侧壁面上设有第一太赫兹透镜。可见光源组件固定安装在壳体上;太赫兹发射组件固定安装在太赫兹接收组件和可见光源组件之间,太赫兹发射组件用于往第一分束器发射太赫兹波束;反射镜和第二分束器分别安装在腔体两侧,第一分束器位于反射镜和第二分束器之间,第一分束器用于将太赫兹波束反射到第二分束器,反射镜用于将可见光反射到第二分束器并使得可见光与太赫兹波束重合,第二分束器用于将可见光和太赫兹波束反射到第一太赫兹透镜。
基本信息
专利标题 :
一种用于太赫兹无损检测的可视化垂直反射测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122275085.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-18
授权号 :
CN216350331U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
张振伟潘晓鹏张存林
申请人 :
首都师范大学
申请人地址 :
北京市海淀区西三环北路105号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
李文丽
优先权 :
CN202122275085.2
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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