人工免疫图像分割技术检测芯片表面缺陷的照明结构
授权
摘要
一种人工免疫图像分割技术检测芯片表面缺陷的照明结构，包括灯架和灯罩，所述灯架顶部设有拍摄口，底部设有物料口，所述灯罩覆盖在灯架的外表面，灯罩顶部设有灯座，灯座与设备架体固定连接，所述灯架内表面从上至下依次设置有同轴灯板、明场灯板、暗场灯板，与现有技术相比，能在一次曝光中完成动态范围图像的获取，图像质量高，芯片表面缺陷表达显著。
基本信息
专利标题 ：
人工免疫图像分割技术检测芯片表面缺陷的照明结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122490364.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-16
授权号 ：
CN216350417U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
周小军谭薇
申请人 ：
周小军;甘肃工业职业技术学院
申请人地址 ：
甘肃省天水市甘肃工业职业技术学院
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122490364.0
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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