一种具有失调校准的低成本模拟测试电路
授权
摘要
本实用新型为一种具有失调校准的低成本模拟测试电路，实现了模拟信号的高度自动化测量，可广泛应用于模拟电路中的直流电压电流的测量与筛选。在IC行业激烈竞争的今天，测试资源非常紧缺，降低测试时间，尽可能减少测试资源的占用，对降低芯片成本具有重要意义。在相同测试成本下，也可通过投入更多测试项，利用丰富的测试手段解决电路设计中难以解决的问题成为可能。本设计实现了片内高度自动化测试，在使用很少的测试资源基础上，可以快速且高精度的完成多项测试。设计仅使用一个测试PAD实现多信号的测试，既减少了PAD面积和封装成本，也防止芯片内部信号直接输出到PAD，提高芯片的安全性。另外，设计具有失调校准功能，以提高测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种具有失调校准的低成本模拟测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122517870.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-19
授权号 ：
CN216560877U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
柳雪晶刘明磊李博文陈艳
申请人 ：
北京中电华大电子设计有限责任公司
申请人地址 ：
北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122517870.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R35/00 G01R19/165
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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