一种耐离子迁移测试结构
授权
摘要
本实用新型涉及线路板测试技术领域，具体涉及一种耐离子迁移测试结构，包括若干测试组，若干所述测试组分别设有若干测试板，所述测试板上设有用于夹具固定的工具孔和呈L型的测试线路，所述测试线路两端设有焊盘和若干根间隔分布、并与所述焊盘连通的正极线路及负极线路，本实用新型结构简单，设计合理，通过设置若干测试板进行测试，可以同步测试多个产品，测试效率高，且无需直接采用产品测试，可以有效节约成本，并方便准确的测试出产品或材料的耐离子迁移特性，并通过设置若干正极线路和若干负极电路，有效确保迁移测试的稳定性及可靠性。
基本信息
专利标题 ：
一种耐离子迁移测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122558249.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-22
授权号 ：
CN216209667U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
李军李俊
申请人 ：
东莞市黄江大顺电子有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市黄江镇板湖北三街七号
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
唐琴
优先权 ：
CN202122558249.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
