一种光学元器件损耗测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学元器件损耗测试装置，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计；通过第二光开关和第一耦合器组成插入损耗测试电路，并通过第三光开关、第四光开关、第二耦合器和光功率计组成回波损耗测试电路，然后通过第一光开关可切换到两个工位使用，从而实现插入损耗和回波损耗的同时测试。
基本信息
专利标题 ：
一种光学元器件损耗测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122612938.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-28
授权号 ：
CN216483837U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
刘延文严慧敏李树蓉
申请人 ：
深圳光泰通信设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华荣路416号A栋厂房302
代理机构 ：
广州凯东知识产权代理有限公司
代理人 ：
叶镇豪
优先权 ：
CN202122612938.7
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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