本实用新型公开了一种三合一电子元件晶振下压测试机构，涉及晶振检测技术领域，包括由电机进行驱动旋转的转盘，在所述转盘的边缘固定安装有若干个晶振治具，在所述转盘的上方设置有往复下压机构，所述往复下压机构边缘分别固定安装有绝缘测试探头、阻抗测试探头、频率测试探头，该晶振下压测试机构，将绝缘测试、阻抗测试以及频率测试集成在一台设备上进行测试，形成三合一测试结构，并且三种性能的测试是同时进行的，中间不存在真空期，从而进一步提高了晶振性能测试的效率，加快测试速度，提高晶振的产量。