一种主动式虚通道参数配置磁传感器芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种主动式虚通道参数配置磁传感器芯片测试装置,包括测试框,还包括横条和测试台,所述测试框的两侧外壁均安装有平行设置的横条,所述横条的侧壁之间转动连接有外侧输送辊,所述外侧输送辊的转轴之间连接有皮带,所述横条的侧壁安装有减速电机,所述减速电机的输出轴与其中一根外侧输送辊的转轴固定连接,所述测试框的内壁之间转动连接有内侧输送辊,所述测试框的内部安装有测试台,所述测试台的顶部安装有矩形阵列分布的立柱,所述立柱的顶部安装有顶板。能够自动输送磁传感器芯片,并将磁传感器芯片定位在测试位置,无需人工放置磁传感器芯片,避免了人为误差,提高了测试效率,测试的精确度较高。
基本信息
专利标题 :
一种主动式虚通道参数配置磁传感器芯片测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122928338.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
CN216696643U
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
李典侑罗杰罗立权
申请人 :
浙江恒拓电子科技有限公司;上海灿瑞科技股份有限公司
申请人地址 :
浙江省嘉兴市南湖区大桥镇永庆路298号
代理机构 :
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李伊飏
优先权 :
CN202122928338.1
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-06-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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