模组产品测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种模组产品测试装置，包括测试机构及浮动式压块机构，测试机构包括一用于与模组产品进行电连接的测试座，浮动式压块机构位于测试座的上方，浮动式压块机构包括连接块、弹性组件及下压块，弹性组件位于连接块与下压块之间且两端分别与连接块及下压块连接，连接块可拆卸的安装在一驱动设备的移动臂上，移动臂能够沿竖向运动并带动连接块沿竖向运动，进而通过弹性组件带动下压块沿竖向运动，下压块向下运动并将模组产品压紧在测试座上。通过设置弹性组件对模组产品与测试座之间的压接误差进行补偿，使得模组产品能够确实压紧在测试座上，进而使得模组产品的信号连接点与测试座上的探针有效接触，从而保证对模组产品的测试精度。
基本信息
专利标题 ：
模组产品测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122945322.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-26
授权号 ：
CN216485315U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
陈男政
申请人 ：
纮华电子科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区马陆镇嘉新公路1355号
代理机构 ：
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田婷
优先权 ：
CN202122945322.1
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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