模组测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种模组测试装置。该模组测试装置包括:基座;承载架,所述承载架用于安装待测试模组;按压组件,所述按压组件包括按压件、测试安装座、第二弹性件和测试盖板,所述测试盖板连接于基座,测试安装座可移动地连接于测试盖板,测试安装座和测试盖板之间设置有第二弹性件;所述测试安装座带动所述按压件相对所述待测试模组移动,以对所述待测试模组进行测试;测试探针,所述测试探针用于与所述待测试模组接触并采集所述待测试模组在与所述按压件接触时产生的信号;护针组件,所述护针组件设置于所述基座,并用于在所述按压组件对所述待测试模组测试完成后使所述按压组件与所述待测试模组分离。该装置测试安全性更高,保护性更好。
基本信息
专利标题 :
模组测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202220447253.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2022-03-03
授权号 :
CN216248085U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
万淑清祁鹏鹏鲁周抗黄炜胜
申请人 :
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区聚才路410号
代理机构 :
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 :
黄定红
优先权 :
CN202220447253.3
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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