一种精度测量校准系统
授权
摘要
本实用新型涉及精度测量领域，特别涉及一种精度测量校准系统，用于安装在固晶机上对芯片及基板进行校准，包括信号连接的数据处理模块和视觉模块以及调节装置；所述视觉模块设于所述调节装置上用于实时获取芯片及基板的图像信息，包括第一视觉组件及第二视觉组件，标的影像的光线被所述第一视觉组件接收，或在所述调节装置的作用下更改光路以被所述第二视觉组件接收，所述数据处理模块用于对视觉模块获取的数据进行处理，然后根据处理结果对固晶机进行校准；本实用新型的精度测量校准系统实现了对固晶后的芯片及基板进行即时检测的功能，灵敏度高、及时性强，且检测精度和检测效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种精度测量校准系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123114974.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216645228U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
雷伟庄
申请人 ：
微见智能封装技术（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区南山街道登良社区南光路13号中兴工业城综合楼7层
代理机构 ：
深圳市智享知识产权代理有限公司
代理人 ：
马静
优先权 ：
CN202123114974.7
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/06 G01B11/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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