一种投影仪光学参数测试探头位移装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种投影仪光学参数测试探头位移装置，包括:背部板，所述背部板用于安装测量探头；测量探头，所述测量探头滑动设置在背部板上；前盖板，所述前盖板转动连接在所述背部板上，所述前盖板上预设若干用于匹配不同画面大小的光学参数的测量孔；所述测量孔与测试所用的测量探头相对。通过应用本实用新型提供的位移装置，只需一套装置可兼容多种测量尺寸的切换，且测量探头采用磁吸的方式，切换十分便捷，本实用新型结构简单可靠，使用方便。
基本信息
专利标题 ：
一种投影仪光学参数测试探头位移装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123155450.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
CN216433477U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
陈斌
申请人 ：
四川长虹电器股份有限公司
申请人地址 ：
四川省绵阳市高新区绵兴东路35号
代理机构 ：
四川省成都市天策商标专利事务所(有限合伙)
代理人 ：
赵以鹏
优先权 ：
CN202123155450.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
